元素分析范围S-U
分析检出限1ppm
能量分辨率160±5eV
探测器电制冷Si-PIN探测器
移动平台方便定位测试点
EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，提高了检测效率和工作效率的作用。
另外，在有害元素检测、合金分析、全元素分析应用上也十分广泛。
各个国家对玩具行业的管控也有各自的法规，如： 出口墨西哥玩具将面临重金属新要求:
从100 mg/kg降到了25 mg/kg 、
镉从100 mg/kg降到了75 mg/kg 、
铬从250 mg/kg降到了60 mg/kg 、
铅从600 mg/kg降到了90 mg/kg 、
汞从100 mg/kg降到了60 mg/kg 、
锑从250 mg/kg降到了60 mg/kg ；
有害元素检测中、快速分析检测设备选型的自我思考
1、设备简单易用（便携式仪器方便携带）
2、可快速对样品做定性分析
3、对样品可做半定量或准定量分析。
4、样品处理方法简单或无前处理
5、设备可靠、维修、维护简单
6、便捷、低廉的售后服务保证
XRF核心技术 —— 4096道脉冲分析器
信号的快速采集和处理、良好的线性度
XRF的优点
快速：一般测量一个样品只需要1～3分钟
无损：物理测量，不改变样品性质
精准：对样品可以分析
直观：直观的分析谱图，元素分布一幕了然
环保：检测过程中不产生任何废气、废水
有害物质检测仪仪器Ro HS仪器的X荧光分析仪具有以下五个特点, 即:
(1) 主要基于能量散射方式实现。
(2) X荧光分析仪体积小、重量轻, 利于携带。关于X荧光分析仪有台式与便携式两种, 其中的台式仪大小为630m×440m×380m, 质量在40~60kg。
(3) 多数X荧光分析仪利用高性能Si-PIN检测器或者是利用SDD (硅漂移) 检测器, 并配备电子制冷器, 因此可以实现在无液氮条件下对器件冷却。相对于Si-PIN检测器来讲, SDD检测器具有更高的灵敏度以及精度。
(4) 功率较小, 耗电量也较小, 一般仅需要几十瓦左右。
(5) 既可以用于Ro HS分析, 测定铅 (Pb) 、镉 (Cd) 、汞 (Hg) 、六价铬 (Cr6+) 等, 还可以对日常的金属、合金、土壤元素进行检测。
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