成都国内水泥成分波散分析仪 有害物质检测仪光谱分析仪

2015年12月14日，环保部发布了《HJ 780-2015 土壤和沉积物无机元素的测定——波长色散X射线荧光光谱法》（以下简称“HJ 780-2015”），正式确立了土壤中无机元素的检测方法。2016年中，正式向社会公开《土壤污染防治行动计划》（“土十条”）全文，全面加强土壤污染的治理。为配合国家开展土壤检验和治理工作，公司（以下简称“有害物质检测仪仪器”）推出的WDX4000型波长色散X射线荧光光谱仪及其相关应用方法，可用于测定土壤和沉积物中25种无机元素和7种氧化物，完全满足HJ 780-2015标准的使用要求。WDX4000顺序式波长色散X射线荧光光谱仪是有害物质检测仪仪器承担的国家重大科学仪器专项项目的研究成果，具有完全的自主知识产权，并拥有多项国家**。WDX4000采用了大量创新性和通用化的设计，配有40位自动进样器，性能优异，操作简便。
1）测角仪：具用**保护的创新型钢带传动系统，精密双轴，可出具计量部门校准证书。
2）高压：功率≥4kW，切换迅速，性能稳定，故障率较低。
3）光管：下照式，4kW，Rh，配套双通道光管水冷系统，较大延长光管使用寿命；
3）滤光片：5组，优化配置Cu、Al滤光片和防尘滤光片；
4）准直器：3个，满足客户在测量微量元素时，对分辨率和强度的侧重选择；
5）晶体：标配5块晶体，能够完成C6—U92之间元素定性、定量的分析，另有选3个空位可供定制；
6）探测器：闪烁探测器，线性计数率3000kcps，流气探测器，线性计数率1500kcps，具有芯线自动清洗功能；
7）自动进样器：40位全自动机械手进样器；
8）版操作软件，拥有理论 a 系数校正、经验α、β、γ系数校正、FP参数校正、谱线重叠校正、仪器状态监控和强大的Sqlite数据库等功能；
9）*有真空气路缓冲系统，有效保护薄膜型样品，在大气颗粒物检测领域应用广泛。

性能特点:
创新的测角仪设计
**保护的创新型钢带传动系统，可以提供稳定、无回程间隙的旋转运动，以保证高精度的角度定位要求；
θ/2θ两轴独立运动，并配合伺服电机和圆光栅构成闭环系统；
永磁式交流伺服电机提供业界的高速平滑运动；
圆光栅测角重复性可达±0.0002度，精度达±0.0006度，足以保证优异的角度测量性能；
数字多道分析仪
12位，80M/s的模数转换采样率，是业界高分辨率的信号采样系统，保证了信号采集的完整性
基于高速FPGA框架以及可靠的数字信号处理算法，4096道分析系统足以从噪声中筛选正确的X射线信号
大动态范围测量，有效减少了探测器增益调节次数
X射线光管和高压
标准的4kW大功率电源系统，支持高灵敏度的痕量检测以及更快的检验速度
50um/75um的铍窗厚度保证**高的X射线穿透率，尤其适合低能X射线穿过
高压电源电压和电流可达60kV和160mA，用户可根据实际需要灵活设置电压和电流参数
双通道水冷系统，电导率保持在1uS以下，以限度延长光管工作寿命其他
多可支持10块晶体，可根据客户需求提供专门优化的人工多层膜晶体，以提升轻元素的检测能力
薄可达0.3um的正比流气计数器窗膜，较大提升了轻元素的光通量
其他：
光谱室温度控制稳定性在±0.05C以内
晶体、准直器和滤光片都采用自动切换控制
软件
完整而丰富的软件功能
32位软件系统，优异的可操作性和人机交互界面
成熟的经验系数法配合标准样品提供准确可靠的检测数据
基本参数法可提供多样化的分析手段，可进行无标样的半定量和定量分析
集成的SQLite数据库用于保存实验数据，方便数据查询和管理

技术指标
进样系统
样品形式：固体
样品尺寸：51.5 mm × 40 mm
样品重量：重500g
进样系统：双进样系统，标备除尘过滤器和预抽真空系统；一个样品测量的同时给另一个样品预抽真空，互不干扰
自动进样机：自动机械手进样系统，多可装168个样品
自旋装置：3种自旋速度(低、中、高)
X射线光管
铍窗：50um/75um**薄铍窗，用以保证X射线的高通过率
阳极材料：标配铑，可选铜、钼、钨，铬，铂等
工作模式：样品进样时保持工作状态不变
水冷系统：双路水循环系统，电导率保持在1uS以下
高压电源
输出方式：1kV和1mA的标准调节单位，通过12位DA进行精细调节
长时间稳定性：0.01%/8 hours
温度稳定性：50 ppm/C
(20 ppm/C可选).
数据
功率：4kW
KV/mA范围：电压20-60KV，电流10-140mA；电压75kV，电流160mA可选.
测角仪
工作模式：创新型钢带传动系统，无摩擦，无回程间隙，带有圆光栅反馈，θ/2θ两轴独立运动
转角速度：6000 2θ/min
测角精度：0.0006° θ / 2θ
测角重复性：0.0002° θ / 2θ
步进角度：小 0.0001°，1°
角度扫描范围：流气比例计数器:12° to 150°@2θ
闪烁计数器: 0° to 120°@2θ
光路
准直器面罩：单面罩，(其他尺寸27， 32 or 50mm可选)
主准直器：多可装3个: 100， 150， 300， 550， 700 or 4000 um， 可选
主滤光片：多4片: Pb，Al，Cu等元素可选
晶体：多10个: LiF420，LiF220，LiF200，Ge111，PE002，InSb， TIAP，以及用于轻元素测量的各种人工多层膜晶体.
探测器：流气比例计数器 (FPC)， 可配0.3um厚的窗膜
闪烁计数器 (SC)
光室真空度：<15Pa
信号处理
数字多道分析仪：12位，80M/s采样速度，4096道分析能力，采用FPGA框架以及可靠的DSP算法用于信号和噪声分离
计数率：流气比例计数器:2Mcps
闪烁计数器: 1.5Mcps
脉冲漂移和增益校正：自动
时间校正：自动

性能特点
1 、*的X 荧光分析仪软件系统，使仪器可以作为OPC SERVER 与OPC 构架的DCS 系统或QCX 系统实现无缝连接；也可配置为QCX 服务器。
2 、采用全中义操作界面，使仪器操作简单方便。
3 、采用*创的全谱检测技术，实现了各道谱线的即时跟踪和校正，从而提高了定量分析的重现性和长期稳定性，同时也提供了诊断仪器工作状态的直观依据。
4 、备有经验系数法和理沦a系数法两种定量分析软件。其中理论a 系数法软件在保证定量分析准确性的条件下可以减少标样数量。
5 、分析数据处理，线性拟合，各种基体校正；
6 、在分析值的基础上进行特性率值的计算：
7 、人机对话，对各种参数进行设定和修改；
8 、分析数据和报告输出方便及时；
9、完善的自诊断措施。
技术指标
恒温室温度控制精度：设定值36°C±0.1°C
X 射线管：Varian 公司生在的400W 薄铍窗端窗X射线管，Rh （Pd 可选）
高压电源：200W ( 50kV4mA ) ，管压管流12 小时稳定度：优于0.05 % 。
分析元素种类：从Na 到U 的任意十种元素。
探测器：流气正比探测器十封闭正比探测器，10 路1024 道独立脉冲高度分析器。
真空系统：独立泵站结构，易于维护，测量室真空度：低于5Pa。
流气系统：高精度流气密度稳定装置，压力稳定度达到士0.003kPa。
交流22Ov 供电设备：1KVA交流净化稳压电流。
分析精度： ( 24 小时，RSD）≤0.05 ％。
单个样品测量时间：（含换样抽真空时间）≤3-5分钟
分析软件：备有经验系数法和理论ɑ系数法两种定量分析方法，采用全谱检测技术，实现了各道谱线的即时跟踪和校正，从而提高了定量分析的重现性和长期稳定性，同时也提供了诊断仪器工作状态的直观依据。完善的自诊断措施。内置了RS 一232 串行通讯协议，TCP / IP 协议（S/ C 基丁Socket ) , OPC 协议（OPC server ）与DCS 或QCS 系统共享数据。
标准配置
200W高压电源
400W薄铍窗端窗X射线管
流气正比探测器+封闭正比探测器
10路1024道独立脉冲高度分析器
独立真空泵站结构
高精度流气密度稳定装置
多路MCA实时检测系统
1KVA交流净化稳压电流
X荧光分析仪系统主要由分析仪、样品制备设备（包括振动磨、压片机）、计算机系统（主要包括主机、监视器、打印机、键盘、X荧光分析仪数据通讯接口、DCS系统通讯接口）等组成，目前我公司针对玻璃行业有WDX-200、WDX-400、WDX-400E、EDX3600B、WDX1800五种种型号X荧光光谱仪。
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