元素分析范围S-U
分析检出限1ppm
能量分辨率160±5eV
探测器电制冷Si-PIN探测器
移动平台方便定位测试点
《电子信息产品中有毒有害物质的检测方法》（以下简称《检测方法》，标准号为 SJ/T 11365-2006）对RoHS要求中有害元素测试方法给予了限定。其中X射线荧光光谱法（XRF）作为一种快捷、方便的方法被制定为快速筛选方法。使用X射线荧光光谱法（XRF）可对铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬（Cr）以及溴（Br）五种元素的相应标准样品进行测试。可是基于 XRF的原理所获得的结果只是元素的含量，也就是说如果这种筛选测试得到铬（Cr）或溴（Br）的含量，即使他们**标也并不能代表有害物质（Cr VI）与阻燃剂PBB和PBDE）**标，这个测试结果（指含有）只是含有相应有害物质的必要条件而并非充分条件。
XRF核心技术 —— 智能分析软件
80种元素精准分析
无标样定量分析
微区分析
薄膜分析
次谱线分析
XRF的优点
快速：一般测量一个样品只需要1～3分钟
无损：物理测量，不改变样品性质
精准：对样品可以分析
直观：直观的分析谱图，元素分布一幕了然
环保：检测过程中不产生任何废气、废水
XRF核心技术 —— 4096道脉冲分析器
信号的快速采集和处理、良好的线性度
各个国家对玩具行业的管控也有各自的法规，如： 出口墨西哥玩具将面临重金属新要求:
从100 mg/kg降到了25 mg/kg 、
镉从100 mg/kg降到了75 mg/kg 、
铬从250 mg/kg降到了60 mg/kg 、
铅从600 mg/kg降到了90 mg/kg 、
汞从100 mg/kg降到了60 mg/kg 、
锑从250 mg/kg降到了60 mg/kg ；
RoHS仪器的X荧光分析仪具有以下五个特点, 即:
(1) 主要基于能量散射方式实现。
(2) X荧光分析仪体积小、重量轻, 利于携带。关于X荧光分析仪有台式与便携式两种, 其中的台式仪大小为630m×440m×380m, 质量在40~60kg。
(3) 多数X荧光分析仪利用高性能Si-PIN检测器或者是利用SDD (硅漂移) 检测器, 并配备电子制冷器, 因此可以实现在无液氮条件下对器件冷却。相对于Si-PIN检测器来讲, SDD检测器具有更高的灵敏度以及精度。
(4) 功率较小, 耗电量也较小, 一般仅需要几十瓦左右。
(5) 既可以用于Ro HS分析, 测定铅 (Pb) 、镉 (Cd) 、汞 (Hg) 、六价铬 (Cr6+) 等, 还可以对日常的金属、合金、土壤元素进行检测。
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