元素分析范围S-U
分析检出限1ppm
能量分辨率160±5eV
探测器电制冷Si-PIN探测器
移动平台方便定位测试点
X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，提高了检测效率和工作效率的作用。
另外，在有害元素检测、合金分析、全元素分析应用上也十分广泛。
有害元素检测中、快速分析检测设备选型的自我思考
1、设备简单易用（便携式仪器方便携带）
2、可快速对样品做定性分析
3、对样品可做半定量或准定量分析。
4、样品处理方法简单或无前处理
5、设备可靠、维修、维护简单
6、便捷、低廉的售后服务保证
XRF核心技术 —— 智能分析软件
80种元素精准分析
无标样定量分析
微区分析
薄膜分析
次谱线分析
本款仪器主要针对RoHS、有害元素检测、贵金属、全元素分析等方面进行测试。应用新一代的高压电源和X光管，提高产品的可靠性；利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。使仪器的测试范围更广，测试效率更高，使用更智能化。
性能优势
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达100W的功率实现更高的测试效率
技术参数
元素分析范围：硫（S）～铀（U）
检出限：1ppm
分析含量：1ppm～99.99％
重复性：0.05％（含量96％以上）
稳定性：0.05％（含量96％以上）
环境温度：15℃～30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：140±5eV
样品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
仪器尺寸：550mm×410mm×320mm
仪器重量：45kg
仪器配置
移动样品平台
信噪比增强器
SDD探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
XRF的优点
快速：一般测量一个样品只需要1～3分钟
无损：物理测量，不改变样品性质
精准：对样品可以分析
直观：直观的分析谱图，元素分布一幕了然
环保：检测过程中不产生任何废气、废水
RoHS仪器的X荧光分析仪具有以下五个特点, 即:
(1) 主要基于能量散射方式实现。
(2) X荧光分析仪体积小、重量轻, 利于携带。关于X荧光分析仪有台式与便携式两种, 其中的台式仪大小为630m×440m×380m, 质量在40~60kg。
(3) 多数X荧光分析仪利用高性能Si-PIN检测器或者是利用SDD (硅漂移) 检测器, 并配备电子制冷器, 因此可以实现在无液氮条件下对器件冷却。相对于Si-PIN检测器来讲, SDD检测器具有更高的灵敏度以及精度。
(4) 功率较小, 耗电量也较小, 一般仅需要几十瓦左右。
(5) 既可以用于Ro HS分析, 测定铅 (Pb) 、镉 (Cd) 、汞 (Hg) 、六价铬 (Cr6+) 等, 还可以对日常的金属、合金、土壤元素进行检测。
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